產(chǎn)品名稱:島津 EDX-7000 檢測(cè)器 維修 更換
產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2026-01-16
產(chǎn)品特點(diǎn):島津 EDX-7000 檢測(cè)器 維修 更換 阿美泰克(Amptek)的 SDD 檢測(cè)器即硅漂移探測(cè)器,是一種高性能的 X 射線檢測(cè)設(shè)備,在材料分析、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。
產(chǎn)品詳細(xì)資料:
島津 EDX-7000 檢測(cè)器 維修 更換工作原理
性能特點(diǎn)
高能量分辨率Amptek:例如其 25mm2 的 SDD 檢測(cè)器,在 5.9keV 的 Mn Kα 線處能量分辨率可達(dá) 125eV FWHM。
高計(jì)數(shù)率Amptek:FAST SDD® 系列能夠達(dá)到超過 1,000,000 cps 的計(jì)數(shù)率,可在高計(jì)數(shù)率下保持良好的分辨率。
高峰背比Amptek:具有較高的峰背比,如標(biāo)準(zhǔn) SDD 檢測(cè)器峰背比可達(dá) 20,000:1,能更清晰地分辨出特征峰。
寬檢測(cè)范圍Amptek:可檢測(cè)從低能到高能的 X 射線,能檢測(cè)到低至 Be Kα 線(110eV)的 X 射線。
小型化與低功耗:采用電制冷方式,無需液氮,體積小、功耗低,適用于實(shí)驗(yàn)室和便攜式設(shè)備。

產(chǎn)品系列
標(biāo)準(zhǔn) SDD 檢測(cè)器Amptek:通常具有 25mm2 的有效面積,500μm 的厚度,采用 TO-8 封裝,配備 0.3 或 0.5mil 的薄鈹窗,有兩級(jí)熱電制冷器,制冷溫差 ΔT>85K。
FAST SDD® 檢測(cè)器Amptek:是 Amptek 的高性能系列,在 TO-8 封裝內(nèi)采用了互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)前置放大器,取代了傳統(tǒng)的結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)晶體管(JFET),進(jìn)一步降低了電容和噪聲,在極短的峰值時(shí)間內(nèi)仍能提供出色的分辨率,計(jì)數(shù)率可超過 1,000,000 cps。
X-123 Fast SDD:屬于緊湊型 X 射線能譜儀系列,集成了高性能數(shù)字脈沖處理器,有效面積有 25mm2 或 50mm2 可選,適用于快速 XRF 分析和元素成分檢測(cè)等場(chǎng)景。
島津 EDX-7000 檢測(cè)器 維修 更換應(yīng)用領(lǐng)域
X 射線熒光分析(XRF)Amptek:用于合金分析、貴金屬檢測(cè)、RoHS/WEEE 指令相關(guān)的有害物質(zhì)檢測(cè)等。
能量色散 X 射線光譜分析(EDS):常作為掃描電子顯微鏡(SEM)的附件,用于材料的元素成分分析和 mapping,在材料科學(xué)、半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。
其他領(lǐng)域:還可應(yīng)用于環(huán)境監(jiān)測(cè)、安全篩查、太空探測(cè)、教學(xué)和研究、過程控制等領(lǐng)域。

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