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島津 EDX-7000 檢測(cè)器  維修 更換工作原理

性能特點(diǎn)

• 高能量分辨率Amptek：例如其 25mm2 的 SDD 檢測(cè)器，在 5.9keV 的 Mn Kα 線處能量分辨率可達(dá) 125eV FWHM。

• 高計(jì)數(shù)率Amptek：FAST SDD® 系列能夠達(dá)到超過 1,000,000 cps 的計(jì)數(shù)率，可在高計(jì)數(shù)率下保持良好的分辨率。

• 高峰背比Amptek：具有較高的峰背比，如標(biāo)準(zhǔn) SDD 檢測(cè)器峰背比可達(dá) 20,000:1，能更清晰地分辨出特征峰。

• 寬檢測(cè)范圍Amptek：可檢測(cè)從低能到高能的 X 射線，能檢測(cè)到低至 Be Kα 線（110eV）的 X 射線。

• 小型化與低功耗：采用電制冷方式，無需液氮，體積小、功耗低，適用于實(shí)驗(yàn)室和便攜式設(shè)備。

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產(chǎn)品系列

• 標(biāo)準(zhǔn) SDD 檢測(cè)器Amptek：通常具有 25mm2 的有效面積，500μm 的厚度，采用 TO-8 封裝，配備 0.3 或 0.5mil 的薄鈹窗，有兩級(jí)熱電制冷器，制冷溫差 ΔT>85K。

• FAST SDD® 檢測(cè)器Amptek：是 Amptek 的高性能系列，在 TO-8 封裝內(nèi)采用了互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體（CMOS）前置放大器，取代了傳統(tǒng)的結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)晶體管（JFET），進(jìn)一步降低了電容和噪聲，在極短的峰值時(shí)間內(nèi)仍能提供出色的分辨率，計(jì)數(shù)率可超過 1,000,000 cps。

• X-123 Fast SDD：屬于緊湊型 X 射線能譜儀系列，集成了高性能數(shù)字脈沖處理器，有效面積有 25mm2 或 50mm2 可選，適用于快速 XRF 分析和元素成分檢測(cè)等場(chǎng)景。

島津 EDX-7000 檢測(cè)器  維修 更換應(yīng)用領(lǐng)域

• X 射線熒光分析（XRF）Amptek：用于合金分析、貴金屬檢測(cè)、RoHS/WEEE 指令相關(guān)的有害物質(zhì)檢測(cè)等。

• 能量色散 X 射線光譜分析（EDS）：常作為掃描電子顯微鏡（SEM）的附件，用于材料的元素成分分析和 mapping，在材料科學(xué)、半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。

• 其他領(lǐng)域：還可應(yīng)用于環(huán)境監(jiān)測(cè)、安全篩查、太空探測(cè)、教學(xué)和研究、過程控制等領(lǐng)域。