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產(chǎn)品名稱:維修 更換 AMPTEK SDD檢測器

產(chǎn)品型號:

更新時間:2025-12-17

產(chǎn)品特點:維修 更換 AMPTEK SDD檢測器AMPTEK SDD 檢測器即 AMPTEK 硅漂移探測器,是一種用于探測 X 射線的半導體探測器,廣泛應用于能量色散型 X 射線熒光光譜儀(XRF)和 X 射線能譜儀(EDS)等設備中。

產(chǎn)品詳細資料:

維修 更換 AMPTEK SDD檢測器工作原理

SDD 探測器的主要結構是一塊低摻雜的高阻硅,背面輻射入射處有一層很薄的異質(zhì)突變結,正面異質(zhì)摻雜電極設計成間隔很短的條紋。反轉(zhuǎn)偏置場在電極間逐步增加,形成平行表面的電場分量。耗盡層電離輻射產(chǎn)生的電子受該電場力驅(qū)動,向極低電容的收集陽極 “漂移",形成計數(shù)電流。

維修 更換 AMPTEK SDD檢測器

產(chǎn)品特點

高計數(shù)率:由于收集陽極的電容極低,相比通常的硅 PIN 器件,SDD 具有更短的上升時間,因而特別適合在高計數(shù)率的情況下工作,計數(shù)率可達 1,000,000 CPS 以上。


高能量分辨率:SDD 的陽極面積小于通常硅 PIN 器件,電容減小,在收集等量電荷的情況下具有更高的電壓,提高了其能量分辨率。如 70 mm2 的 FAST SDD 探測器,在 5.9 keV 時能量分辨率可達 123 eV FWHM。


可在常溫下工作:SDD 的電容和漏電流比一般探測器小兩個數(shù)量級以上,通常把場效應管(FET)和珀爾帖效應器件整合到一起,常溫下就能滿足制冷需求,適用于便攜式設備。


增益穩(wěn)定性高:采用 CMOS 電荷靈敏前置放大器,增益穩(wěn)定性 < 20 ppm/°C。

主要型號及參數(shù)

以 70 mm2 FAST SDD 為例,其有效面積為 70 mm2,準直至 50 mm2,硅厚度 500 µm,采用 TO - 8 封裝。窗口有 0.5 密耳(12.5 µm)Be 或 C2 (Si?N?) 兩種選項,前置放大器輸出上升時間 < 60 ns,總功率 < 2 W,工作溫度范圍為 - 35°C 至 + 80°C。

維修 更換 AMPTEK SDD檢測器應用領域

超快速臺式和手持式 XRF 分析儀:用于快速分析樣品中的元素成分。

掃描電鏡(SEM)中的 EDS 系統(tǒng):作為 EDS 系統(tǒng)的一部分,用于掃描 / 繪制樣品譜圖,分析樣品的元素分布。

在線流程控制:可實時監(jiān)測生產(chǎn)流程中的元素變化,實現(xiàn)質(zhì)量控制。

X 射線分揀機:根據(jù)元素成分對物品進行分揀。

維修 更換 AMPTEK SDD檢測器


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